| 구분 | 부분품 기업 | ||
|---|---|---|---|
| 인증번호 | 20-IM-15 | ||
| 품목명 | Probe Card | ||
| 모델명 | DRAM XDT | ||
| 기업명 | ㈜코리아인스트루먼트 | ||
| 평가인증단계 | 성능개선 | ||
| 인증기관 | 삼성전자 | ||
| 인증일자 | 2020-08-31 | ||
| 기업홈페이지 | www.kicl.co.kr | ||
| 품목 담당자 | 조현진 수석 | ||
| 연락처 | 031-375-5900 | ||
| icoman@kicl.co.kr | |||
| 품목개요 | Probe Card는 웨이퍼를 고정하고 가열 및 냉각하는 장치인 프로버(Prober) 내부에 장착되며, 테스터로부터 전달되는 전기적 신호를 테스트하고자 하는 웨이퍼에 접촉된 미세한 탐침을 통하여 전달하여 웨이퍼에 형성된 반도체 칩의 불량 여부를 검사하는 역할. | ||
| 품목 특장점 |
- DRAM용 Probe Card는 일본 및 미국 업체에 전량 의존하고 있는 상황에서 XDT(16분기) 제품의 국산화 개발 성공. - 해외 선행사 대비 동등 성능 확보. ∙ Pin 수량 : 89,224 pins ∙ Position Accuracy : ±8㎛ 이하 ∙ Pin Planarity Gap : 30㎛ 이하 ∙ Probe Pitch : 55㎛ ∙ Channel 분기 Skew : 200ps |
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| 제품 이미지 |
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